SEM 525-M новое измерение в микроскопии
Сканирующий электронный микроскоп Philips' SEM 525-M имеет все возможности необходимые для
быстрого неразрушительного контроля больших образцов.
Детальная информация может быть получена с образцов размером вплоть до 200 мм (8") в диаметре,
благодаря тому, что микроскоп имеет расширенную маневренность образца и изображение высокого разрешения
может быть получено для всех ориентаций образца. Дополнительная информация с каждой исследуемой точки
может быть собрана одновременно многочисленными детекторами микроскопа, а простота системы гарантирует
даже наиболее сложные их наборы.
Замечательные возможности SEM 525-M являются результатом проектирования специализированного прибора удовлетворяющего требованиям микроскопистов работающих с большими образцами; например, полупроводниковые платы вплоть до 8" в диаметре, или большие образцы часто встречающиеся в механических инженерных приложениях проектирования и судебной науке. Операции, которые обычно требуют значительной затраты времени, такие как перемещение по поверхности, фокусировка, коррекция астигматизма, или выбор детекторов, могут быть выполнены быстро простым нажатием кнопки. Рутинные промышленные приложения такие как измерение ширины линий интегральных схем на SEM 525-M могут сохранить время и увеличить надежность результатов благодаря автоматизации процедур проверки. Это обусловлено тем, что возможна связь микроскопа с внешним компьютером для того чтобы контролировать главные управляющие параметры дистанционно. Позволяет сохранять до 99 позиций в памяти.